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INNOVATIVES MESSSYSTEM ZUR OPTISCHEN FORMERFASSUNG GLÄNZENDER GLATTER FREIFORMOBERFLÄCHEN


Kurzfassung

Forscher der TU Ilmenau haben ein innovatives Messsystem zur optischen Formerfassung glänzender glatter Freiformoberflächen entwickelt, das u. a. für die Absolutvermessung von Freiformoptiken mit großen Neigungen, starken Krümmungen und der gesamten Oberfläche von Prismen, Reflektoren und Beleuchtungssystemen geeignet ist.


Hintergrund

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es ein Messsystem bereitzustellen, mit dem es gelingt, die absolute Topographie von zumindest teilweise reflektierenden Oberflächen berührungslos zu erfassen, wobei die zu vermessende Oberfläche insbesondere asphärisch oder als Freiform ausgebildet ist und große Neigungen oder starke Krümmungen aufweisen kann. Gleichzeitig soll mit dem erfindungsgemäßen Verfahren eine hohe Messauflösung mit möglichst geringeren Kosten realisiert werden.


Bilder & Videos


Lösung

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur optischen Formerfassung glänzender glatter Freiformoberflächen, mit denen auch Freiformoptiken mit großen Neigungen absolut vermessen und deren Oberflächen rekonstruiert werden können. Die Erfindung baut auf dem Prinzip der Rasterreflektometrie auf, bei dem von der zu untersuchenden, zumindest teilweise spiegelnden Oberfläche ein Abtaststrahl (Lichtmuster) reflektiert wird und mit Hilfe einer dreidimensionalen Beobachtungseinheit (Schirm) im Raum zurückpropagiert wird. Der Kreuzungspunkt dieses zurück propagierten Strahls mit dem abgetasteten Strahl entspricht einem Punkt auf der Oberfläche des Messobjektes. Diese Punkte werden im Raum mit den 3 Koordinaten x, y und z definiert. Das innovative Messsystem kann insbesondere auch für die gleichzeitige Vermessung und Rekonstruktion der vorderen und hinteren optisch glatten Oberflächen eines durchsichtigen Messobjektes verwendet werden.


Vorteile

  • gleichzeitige Vermessung der vorderen und hinteren optisch glatten Oberflächen eines durchsichtigen Messobjektes,
  • Absolutvermessung von Freiformoptiken mit großen Neigungen, starken Krümmungen und der gesamten Oberfläche von Prismen, Reflektoren und Beleuchtungssystemen,
  • laterale Auflösung und Tiefenauflösung im µm Bereich,
  • geringer Kalibrierungsaufwand


PATON | Patentmanagement Thüringer Hochschulen

Jana False
03677 69 4589
jana.false@tu-ilmenau.de
www.paton.de
Adresse
Langewiesener Str. 37
98693 Ilmenau



Entwicklungsstand

Prototyp


Patentsituation

  • DE 10 2013 018 569 erteilt

Stichworte

Freiformvermessung, Optik, Photonik, reflektierende Oberflächen, Laser, Linsen, Freiformen, Vermessung, Qualitätssicherung

Kontakt | Geschäftsstelle

TechnologieAllianz e. V.
Christiane Bach-Kaienburg
(Geschäftsstellenleiterin)

c/o PROvendis GmbH
Schloßstr. 11-15
D-45468 Mülheim an der Ruhr